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菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL230 FISCHER代理
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菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL230 FISCHER代理，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 是德國(guó)菲希爾 (Helmut Fischer) 公司推出的一款能量色散型 X 射線熒光 (EDXRF) 鍍層測(cè)厚及材料分析系統(tǒng)，專(zhuān)為工業(yè)質(zhì)量控制、來(lái)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控設(shè)計(jì)，采用從上往下的測(cè)量方向，便于分析形狀不規(guī)則的樣品。
菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL230 FISCHER代理的詳細(xì)資料：
菲希爾X射線測(cè)厚儀XDL230 FISCHER代理
菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER XDL230核心技術(shù)特點(diǎn)
無(wú)標(biāo)片測(cè)量能力：采用菲希爾基本參數(shù)法 (FP)，多數(shù)樣品無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)片即可直接測(cè)量，大幅提升檢測(cè)效率
距離補(bǔ)償技術(shù) (DCM)：可實(shí)現(xiàn) 0-80mm 深度腔體樣品的遠(yuǎn)距離對(duì)焦測(cè)量，解決復(fù)雜形狀樣品測(cè)量難題
穩(wěn)定性：長(zhǎng)期校準(zhǔn)穩(wěn)定性高，減少頻繁校準(zhǔn)需求，降低維護(hù)成本
三檔高壓調(diào)節(jié)：X 射線發(fā)生器提供 30kV/40kV/50kV 三檔選擇，適配不同材質(zhì)與鍍層厚度
靈活準(zhǔn)直系統(tǒng)：標(biāo)配 φ0.3mm 圓形準(zhǔn)直器滿足微區(qū)檢測(cè)需求
比例接收器技術(shù)：提高測(cè)量精度和重復(fù)性，重現(xiàn)性變異系數(shù) < 0.5%
